膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY測(cè)厚儀校正片

用于校準(zhǔn)和檢驗(yàn)測(cè)厚儀的重要工具。

它具有已知的單位面積質(zhì)量或厚度的均勻覆蓋層。

-般來說，選擇測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)需考慮以下因素:

要求:應(yīng)根據(jù)測(cè)厚儀的厚度要求和實(shí)際測(cè)量需要選擇具有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)片。

2.覆蓋層和基體材料:標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料。然而，對(duì)于試樣基材為合金成分的情況，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3.x射線發(fā)射(或吸收)特性:校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的 x射線發(fā)射(或吸收)特性。如果厚度由x射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的

X射線鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)塊校正片

MicroP XRF-2020測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)塊

通用型:可應(yīng)用各種X射線測(cè)厚儀品牌

用于校正鍍層測(cè)厚儀

標(biāo)準(zhǔn)曲線及添加應(yīng)用程序

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/鋅鎳合金等

膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片X-RAY測(cè)厚儀校正片標(biāo)準(zhǔn)片可訂制，均附帶標(biāo)準(zhǔn)證書