像其他儀器一樣，X光鍍層測厚儀使用從探頭通過非鐵磁涂層流入鐵磁基體的磁通量來測量涂層厚度。也可以測量相應的磁阻來表示涂層厚度。因此，必須影響待測試基板的電磁物理特性和物理尺寸。磁通量和渦流的大小。這影響了測量值的可靠性，下面將介紹以下問題。
1.邊界距離如果探頭與被測物體邊界、孔眼、腔體等截面的距離小于規定的邊界間隙，測量誤差將由磁通量不足或渦流載體截面引起。如果此時需要測量涂層厚度，則只能在相同條件下，在未涂層表面上預先校準來測量。
2.將基板表面曲率校準到直線對比樣品上的初始值，然后測量涂層厚度后減去初始值。
3.基底金屬的小厚度基底金屬必須具有給定的小厚度，以便探針的電磁場可以*包含在基底金屬中。小厚度與測量設備的性能和金屬基底的特性有關。不校正測量值進行測量。對于基底厚度不足的影響，可以采取措施將一塊相同的材料緊緊地粘附在基底下面以消除它。如果很難或不可能添加基底，可以通過與已知涂層厚度的樣品進行比較來確定與額定值的差異。并在測量中考慮到這一點，相應地修正測量值或參考第2條進行修正。那些可以校準的儀器可以通過調節旋鈕或按鈕獲得準確的直讀厚度值。相反如上所述通過利用過小厚度的影響，可以開發用于直接測量銅箔厚度的測厚儀。
4.表面粗糙度和表面清潔度為了獲得粗糙表面的代表性平均測量值，需要進行多次測量。顯然，基底或涂層越粗糙，測量的可靠性就越差。為了獲得可靠的數據，基底的平均粗糙度Ra應小于涂層厚度的5%。應清除表面雜質。一些工具有上限和下限來消除這些飛點。
5.涂層材料中的鐵磁和導電成分涂層中某些鐵磁成分(如顏料)的存在會影響測量值。在這種情況下，用于校準的對比樣品涂層應具有與測試對象涂層相同的電磁特性，并應在校準后使用。所使用的方法可以是在鋁板或銅板樣品上涂覆相同的涂層，并在渦流試驗后獲得對比標準樣品。
